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paul predecki (87 résultats)
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 29
Vendeur : Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 13,58
Expédition à EUR 4,83
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fine. Etat de la jaquette : Fine. First Edition. Previous owner's blindstamp, otherwise a fine hardcover copy in a fine mylar protected DJ, white spine.
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OBSERVATIONS OF DEFORMATION IN SPHERULITIC POLYETHYLENE (Pamphlet)
Edité par J Applied Physics, 1970
Vendeur : Larry W Price Books, Portland, OR, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Magazine / Périodique
EUR 6,25
Expédition à EUR 4,35
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPamphlet. Etat : Very Good. Vol 41, No 11, pp. 4342-4346, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet, else VG.
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DISLOCATIONS CAUSED BY CHAIN ENDS IN CRYSTALLINE POLYMERS (Pamphlet)
Edité par J Applied Physics, 1966
Vendeur : Larry W Price Books, Portland, OR, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Magazine / Périodique
EUR 7,15
Expédition à EUR 4,35
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPamphlet. Etat : Very Good. Vol 37, No 11, pp. 4053-4059, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet else VG.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 31
Vendeur : Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 22,63
Expédition à EUR 4,83
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fine. Etat de la jaquette : Fine. First Edition. This is a fine hardcover copy in a fine mylar protected DJ, white spine.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 30
Vendeur : Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 22,63
Expédition à EUR 4,83
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fine. Etat de la jaquette : Fine. First Edition. This is a fine hardcover copy in a fine mylar protected DJ, white spine.
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Advances in X-Ray Analysis, Volume 32
Vendeur : BookDepart, Shepherdstown, WV, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 22,67
Expédition à EUR 7,42
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. Hardcover; Volume 32 only; proceedings of the 37th annual conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 1-5, 1988, in Steamboat Springs, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; former owner's stamping on front endpaper; a few small spots at top page edge; in very good condition with clean text, firm binding. Dust jacket shows light scuffing and shelf wear.
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Advances in X-Ray Analysis, Volume 29
Vendeur : BookDepart, Shepherdstown, WV, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 22,67
Expédition à EUR 7,42
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. Hardcover; Volume 29 only; proceedings of the 34th annual conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 5-9, 1985, in Snowmass, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; light stain at top page corners; fade spots to endpapers; in very good condition with clean text, firm binding. Dust jacket shows scuffing, light soiling, and a few small edge tears.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 27
Vendeur : Reader's Corner, Inc., Raleigh, NC, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 49,78
Expédition à EUR 4,83
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Advances In X - Ray Analysis
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 66,48
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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ADVANCES IN X - RAY ANALYSIS
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 66,48
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Advances In X - Ray Analysis
Vendeur : SMASS Sellers, IRVING, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 69,18
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 28
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 60,69
Expédition à EUR 13,90
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 60,69
Expédition à EUR 13,90
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 57,57
Expédition à EUR 17,97
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 28
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 57,27
Expédition à EUR 17,97
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 76,20
Expédition à EUR 3,51
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 1334 1st Edition.
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 72,08
Expédition à EUR 7,54
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 72,34
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 82,65
Expédition à EUR 3,51
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 87,15
Expédition à EUR 3,51
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 38
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 97,51
Expédition à EUR 3,95
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Very Good. 813 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight (lacks dust jacket). - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Photos available upon request.
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Advances In X-Ray Analysis
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,83
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Edition internationaleAdvances In X-Ray Analysis
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,23
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 101,99
Expédition à EUR 13,90
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 50,25
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 28 | Paul K. Predecki (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2011 | Springer US | EAN 9781461294993 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 50,35
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 119,25
Expédition à EUR 7,54
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Advances in X-Ray Analysis
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 124,27
Expédition à EUR 3,51
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 932.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 28
Langue: anglais
Edité par Springer US, Springer New York, 2011
ISBN 10 : 1461294991 ISBN 13 : 9781461294993
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 59,97
Expédition à EUR 63,86
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. 1984. on the campus of the University of Denver. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer ence. the plenary sessions dealt with topics of X-ray fluorescence. Prof. H. Aiginger presented a plenary lect~re on TOTAL REFLECTANCE X-RAY SPECTROMETRY which admirably described this relatively new technique. J. C. Russ discussed XRF AND OTHER SURFACE ANALYTICAL TECHNIQUES which gave an excellent overview of the role XRF plays in a modern analytical laboratory. J. E. Taggart. Jr. described THE ROLE OF XRF IN A MODERN GEOCHEMICAL LABORATORY and presented many case histories of the configura tion of analytical equipment in several geochemical laboratories. The plenary lectures demonstrated both the dynamic nature of research in X-ray fluorescence. and the important role X-ray spectrom etry plays in the arsenal of analytical methods found in modern labora tories. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics. Potentially. new sample types may be considered as X-ray fluorescence specimens using this technique.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 35B
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 61,89
Expédition à EUR 65,50
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
