Paul predecki (87 résultats)
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 29
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & John Faber, Jr., & Ron Jenkins, Editors
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Edité par J Applied Physics, 1970
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Edité par J Applied Physics, 1966
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 31
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 30
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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Hardcover. Etat : Very Good. Hardcover; Volume 29 only; proceedings of the 34th annual conference on App lications of X-Ray Analysis, held August 5-9, 1985, in Snowmass, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; light stain at top page corners; f ade spots to endpapers; in very good condition with clean text, firm bindi…n g. Dust jacket shows scuffing, light soiling, and a few small edge tears.
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 27
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden & John C. Russ & Jerome B. Cohen, Editors
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Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
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EUR 3,41 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 648.
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Etat : New. pp. 412 Index.
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Etat : New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed o…n the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Etat : Very Good. 813 pp., hardcover, minor library markings else text clean & binding tight (lacks dust jacket). - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recip…ient's country. Photos available upon request.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 7,59 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 932 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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EUR 3,41 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Etat : New. pp. 932.
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EUR 63,86 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. 1984. on the campus of the University of Denver. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray flu…orescence at the confer ence. the plenary sessions dealt with topics of X-ray fluorescence. Prof. H. Aiginger presented a plenary lect~re on TOTAL REFLECTANCE X-RAY SPECTROMETRY which admirably described this relatively new technique. J. C. Russ discussed XRF AND OTHER SURFACE ANALYTICAL TECHNIQUES which gave an excellent overview of the role XRF plays in a modern analytical laboratory. J. E. Taggart. Jr. described THE ROLE OF XRF IN A MODERN GEOCHEMICAL LABORATORY and presented many case histories of the configura tion of analytical equipment in several geochemical laboratories. The plenary lectures demonstrated both the dynamic nature of research in X-ray fluorescence. and the important role X-ray spectrom etry plays in the arsenal of analytical methods found in modern labora tories. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics. Potentially. new sample types may be considered as X-ray fluorescence specimens using this technique.
