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![Image du vendeur pour Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3 mis en vente par ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md31296753760.jpg)
Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3
Vendeur : ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS, Lübeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Edition originale
EUR 7
Expédition à EUR 22,13
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierGr.-8° Gebundene Ausgabe. Etat : Neu. Pietsch, Jürgen M (illustrateur). 1. Auflage. 96 Seiten Gebundenes Buch. Buch ist neu, aus priv. Vorbesitz. original eingeschweisst. ISBN: 9783000084423 Wir senden umgehend mit beiliegender MwSt.Rechnung. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 561.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 57,38
Expédition à EUR 2,31
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 58,46
Expédition à EUR 2,31
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Livre 59 sur 227 : Springer Tracts in Modern PhysicsVendeur : Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 25,70
Expédition à EUR 40
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Ajouter au panierHardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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Neuerwerbungen 1974-1979.
Langue: allemand
Edité par Museum für Kunst- und Kulturgeschichte, Lübeck, 1980
EUR 9
Expédition à EUR 20
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierkartonierte Ausgabe. Etat : Gut. 101 Seiten, schwarz-weiße Abbildungen, Inhaltsverzeichnis, abgekürzt zitierte Literatur, illustrierter Einband Dieser Auswahlkatalog erschien anläßlich der Ausstellung "Neuerwerbungen 1974-1979" im Museum Behnhaus vom 13. Juni bis 20. Juli 1980. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 200.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 55,17
Expédition à EUR 14,05
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 55,16
Expédition à EUR 17,59
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High-resolution X-ray scattering. From thin films and lateral nanostructures.
Vendeur : Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 31,48
Expédition à EUR 40
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. 2nd ed. XVI, 408 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05638 9780387400921 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 60,31
Expédition à EUR 17,59
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![Image d'archives pour High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics) [Hardcover] Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav and Baumbach, Tilo mis en vente par SpringBooks](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780387400921-fr-300.jpg)
EUR 42,34
Expédition à EUR 39,90
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Very Good. 2. Auflage. Unread, some shelfwear. Immediately dispatched from Germany.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 98,47
Expédition à EUR 14,05
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 95,69
Expédition à EUR 18,16
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 116,47
Expédition à EUR 6,08
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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High-Resolution X-Ray Scattering
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 137,47
Expédition à EUR 3,49
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 141,75
Expédition à EUR 14,05
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 143,50
Expédition à EUR 14,66
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 2nd edition. 410 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Langue: anglais
Edité par Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10 : 1441923071 ISBN 13 : 9781441923073
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 100,94
Expédition à EUR 63,23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 140,11
Expédition à EUR 29,32
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Livre 59 sur 227 : Springer Tracts in Modern PhysicsVendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 253,64
Expédition à EUR 29,32
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Ein fein Bergmannig Porcelan: Abbilder vom Bergbau in "Weissem Gold" (Veröffentlichungen aus dem Deutschen Bergbau-Museum)
Langue: allemand
Edité par Deutsches Bergbau-Museum, 1999
ISBN 10 : 3921533643 ISBN 13 : 9783921533642
Vendeur : Antiquariat Kastanienhof, Pirna, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 19
Expédition à EUR 84,86
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Ajouter au panierHardcover. Etat : Sehr gut. 28,19 x 22,86 x 2,54 Gebundene Ausgabe, SEHR GUTES EXEMPLAR--- Für Ihre Zufriedenheit versenden wir mit DHL und ausschließlich mit Trackingcode für eine sichere Sendungsverfolgung! Weitere Angebote unter antiquariat-kastanienhof , 365 Seiten. nein.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 59,77
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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High-Resolution X-Ray Scattering
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 55,75
Expédition à EUR 5,89
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High-Resolution X-Ray Scattering (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 78,24
Expédition à EUR 6,80
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High-Resolution X-Ray Scattering
Langue: anglais
Edité par Springer New York Dez 2011, 2011
ISBN 10 : 1441923071 ISBN 13 : 9781441923073
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 96,29
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers. 428 pp. Englisch.
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EUR 81,44
Expédition à EUR 48,99
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Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 142,13
Expédition à EUR 7,62
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 428 241 Illus.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 142,08
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 428.
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EUR 84,50
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. High-Resolution X-Ray Scattering | From Thin Films to Lateral Nanostructures | Ullrich Pietsch (u. a.) | Taschenbuch | Advanced Texts in Physics | xvi | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441923073 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Langue: anglais
Edité par Springer, Springer Dez 2011, 2011
ISBN 10 : 1441923071 ISBN 13 : 9781441923073
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
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EUR 96,29
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 428 pp. Englisch.
