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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 95,61
Autre deviseEUR 7,62 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
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EUR 101,40
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
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EUR 101,73
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 112,43
Autre deviseEUR 3,38 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 116,36
Autre deviseEUR 7,47 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 111,47
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
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EUR 128,65
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 120,70
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 147,52
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 155,97
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 148,84
Autre deviseEUR 28,75 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 2009 edition. 210 pages. 9.25x6.10x0.48 inches. In Stock.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 164,88
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 164,88
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EUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 162,25
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 207,51
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Edité par Springer US, Springer US, 2012
ISBN 10 : 1461426723 ISBN 13 : 9781461426721
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 162,91
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Knowledge exists: you only have to nd it VLSI design has come to an important in ection point with the appearance of large manufacturing variations as semiconductor technology has moved to 45 nm feature sizes and below. If we ignore the random variations in the manufacturing process, simulation-based design essentially becomes useless, since its predictions will be far from the reality of manufactured ICs. On the other hand, using design margins based on some traditional notion of worst-case scenarios can force us to sacri ce too much in terms of power consumption or manufacturing cost, to the extent of making the design goals even infeasible. We absolutely need to explicitly account for the statistics of this random variability, to have design margins that are accurate so that we can nd the optimum balance between yield loss and design cost. This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs. Memory circuits tend to be the hardest hit by the problem of these random variations because of their high replication count on any single chip, which demands a very high statistical quality from the product. Requirements of 5-6s (0.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
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EUR 233,31
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 134,10
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EUR 92,27
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents flexible and general techniques for statistical analysis that can be applied to wide variety of circuit applicationsApplies theory from a wide variety of scientific fields (machine learning, computational finance, number theory, actuarial.
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EUR 93
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents flexible and general techniques for statistical analysis that can be applied to wide variety of circuit applicationsApplies theory from a wide variety of scientific fields (machine learning, computational finance, number theory, actuarial.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 138,91
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 139,09
Autre deviseEUR 23 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Knowledge exists: you only have to nd it VLSI design has come to an important in ection point with the appearance of large manufacturing variations as semiconductor technology has moved to 45 nm feature sizes and below. If we ignore the random variations in the manufacturing process, simulation-based design essentially becomes useless, since its predictions will be far from the reality of manufactured ICs. On the other hand, using design margins based on some traditional notion of worst-case scenarios can force us to sacri ce too much in terms of power consumption or manufacturing cost, to the extent of making the design goals even infeasible. We absolutely need to explicitly account for the statistics of this random variability, to have design margins that are accurate so that we can nd the optimum balance between yield loss and design cost. This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs. Memory circuits tend to be the hardest hit by the problem of these random variations because of their high replication count on any single chip, which demands a very high statistical quality from the product. Requirements of 5-6s (0. 256 pp. Englisch.
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EUR 136,16
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Includes a treatment of memory design from the perspective of statistical analysisCovers relevant theoretical background from other fields: statistics, machine learning, optimization, reliabilityExplains the problem of estimating statistics of memory perfor.
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EUR 137,26
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Includes a treatment of memory design from the perspective of statistical analysisCovers relevant theoretical background from other fields: statistics, machine learning, optimization, reliabilityExplains the problem of estimating statistics of memory perfor.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Edité par Springer US, Springer US Nov 2012, 2012
ISBN 10 : 1461426723 ISBN 13 : 9781461426721
Langue: anglais
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
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EUR 160,49
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 217,47
Autre deviseEUR 7,47 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 225,34
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