Smith deane s (22 résultats)
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponibles
Etat : New. Criss-cross Vacation (Paperback or Softback).
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponibles
Hardback or Cased Book. Etat : New. Criss-cross Vacation. Book.
Edité par Reserve Bank of New Zealand 1983, 1983
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Vendeur : Hard to Find Books NZ (Internet) Ltd., Dunedin, OTAGO, Nouvelle-ZélandeHard to Find Books NZ (Internet) Ltd.
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Etat: Occasion
EUR 8,47
EUR 21,51 expéditionExpédition depuis Nouvelle-Zélande vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible
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Edité par Reserve Bank of New Zealand, Wellington, 1983
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Vendeur : Book Express (NZ), Shannon, Nouvelle-ZélandeBook Express (NZ)
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EUR 6,67
EUR 40,01 expéditionExpédition depuis Nouvelle-Zélande vers Etats-UnisQuantité disponible : 3 disponibles
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Edité par Reserve Bank of NZ, 1983. Second edition., 1983
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Vendeur : The Book Firm, Subiaco, WA, AustralieThe Book Firm
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EUR 34,90
EUR 12,45 expéditionExpédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible
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Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
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EUR 18,17 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponibles
PF. Etat : New.
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 17,53 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In English.
Journals of the Rev. T. Smith and the Rev. S. Deane, pastors of the first church in Portland, with notes and biographical notices and a summary history of Portland, by W. Willis. [Second edition.]
Smith, Thomas Pastor of the First Church in Portland U. S.|Deane, Samuel
Langue : anglais
Edité par British Library, Historical Print Editions, 2011
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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Etat : New. KlappentextbTitle:/b Journals of the Rev. T. Smith and the Rev. S. Deane, pastors of the first church in Portland, with notes and biographical notices and a summary history of Portland, by W. Willis. [Second edition.]br/br/bPublisher:/b .
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Vendeur : Books Puddle, Woodside, NY, Etats-UnisBooks Puddle
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Etat : New. pp. 648.
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index. …
Edité par Reserve Bank of New Zealand, Wellington, NZ, 1983
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Vendeur : J. Wyatt Books, Ottawa, ON, CanadaJ. Wyatt Books
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EUR 20,45 expéditionExpédition depuis Canada vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible
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Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
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EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponibles
Taschenbuch. Etat : Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
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EUR 104,46
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Gebunden. Etat : New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.
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Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-UniChiron Media
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EUR 288,74
EUR 18,17 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponibles
Hardcover. Etat : New.
Edité par Springer, 1992
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-UnisZubal-Books, Since 1961
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EUR 71,45
EUR 4,00 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index. 648 pp. Englisch.…
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 48,37
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrum.…
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Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-UniMajestic Books
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EUR 94,86
EUR 7,63 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponibles
Etat : New. Print on Demand pp. 648 67:B&W 6.69 x 9.61 in or 244 x 170 mm (Pinched Crown) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Etat : New. PRINT ON DEMAND pp. 648.
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Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagnebuchversandmimpf2000
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EUR 53,49
EUR 60,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 648 pp. Englisch.…
