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atomic force microscopy applications (82 résultats)
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series on Optical and Imaging Sciences)
Langue: anglais
Edité par U.S.A.: Oxford University Press, 1994
ISBN 10 : 019509204X ISBN 13 : 9780195092042
Vendeur : Bingo Books 2, Vancouver, WA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 24,40
Expédition à EUR 5,42
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Good. 2nd Edition. REVISED HARDBACK BOOK IN GOOD TO VERY GOOD CONDITION,BOOK IS SLIGHTLY TWISTED.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
Langue: anglais
Edité par Oxford University Press, 1994
ISBN 10 : 019509204X ISBN 13 : 9780195092042
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 23,58
Expédition à EUR 15,73
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,800grams, ISBN:019509204X.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces - Oxford Series in Optical and Imaging Sciences - Revised Edition
Langue: anglais
Edité par Oxford University Press, New York, 1994
ISBN 10 : 019509204X ISBN 13 : 9780195092042
Vendeur : Don's Book Store, Albuquerque, NM, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 39,92
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Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHard Back. Etat : Very Good. Etat de la jaquette : No Dust Jacket. Revised Edition - Third Printing. 263 Pages Indexed. Solid book in great condition. High interest and major advances in the technology of scanning force microscopy that have taken place since the 1991 release has made this Revised Edition necessary. The tenth anniversary of Scanning Tunneling Microscopy, celebrated at the Sixth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy in Interlaken, Switzerland August 12-16, 1991, with more than one thousand participants, produced three volumes of papers that attest to the ever-growing interest in this technology. As the field of scanning force microscopy has matured, a gradual shift in gears has taken place, from activities involving the development of instruments to their use as probes in a large rainbow of disciplines. Therefore, this new print, which includes all the material contained in the first print, additionally has the latest available list of new references that deal with electric, magnetic, and atomic force microscopy. It should also be noted that several scanning force microscopy related reviews have appeared, some of which present detailed information on specialized topics. Contents in 13 Chapters: Mechanical Properties of Levers, Resonance Enhancement, Sources of Noise, Tuneling Detection System, Capacitance Detection System, Homodyne Detection System, Heterodyne Detection System, Laser-Diode Feedback Detection System, Polarization Detection System, Deflection System, Electric Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, and Atomic Force Microscopy.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
Langue: anglais
Edité par Oxford University Press, 1994
ISBN 10 : 019509204X ISBN 13 : 9780195092042
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 24,65
Expédition à EUR 15,73
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:9780195092042.
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Atomic Force Microscopy: Biomedical Methods and Applications (Methods in Molecular Biology, 242)
Vendeur : Once Upon A Time Books, Siloam Springs, AR, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 38,61
Expédition à EUR 3,40
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : Good. This is a used book in good condition and may show some signs of use or wear . This is a used book in good condition and may show some signs of use or wear .
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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Vendeur : Bookbot, Prague, Rébublique tchèque
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 34,49
Expédition à EUR 20,99
Expédition depuis Rébublique tchèque vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fine. Leichte Rillen / Abschürfungen / Risse / Knicke. This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Langue: anglais
Edité par Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012
ISBN 10 : 0470638826 ISBN 13 : 9780470638828
Vendeur : Better World Books, Mishawaka, IN, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 67,44
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Quantitative Measurements of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions Using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 66,64
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM): Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 65,88
Expédition à EUR 13,86
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Langue: anglais
Edité par VDM Verlag Dr. Mueller e.K. 2008-06-19, 2008
ISBN 10 : 3639024613 ISBN 13 : 9783639024616
Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 62,08
Expédition à EUR 17,92
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 10 disponible(s)
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Quantitative Measurements of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions Using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 65,05
Expédition à EUR 17,35
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Atomic Force Microscopy: Biomedical Methods and Applications (Methods in Molecular Biology, 242)
Vendeur : BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 79,18
Expédition à EUR 5,99
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications
Langue: anglais
Edité par LAP LAMBERT Academic Publishing, 2019
ISBN 10 : 6200247242 ISBN 13 : 9786200247247
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 73,71
Expédition à EUR 11,57
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 60 pages. 8.66x5.91x0.14 inches. In Stock.
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Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications
Langue: anglais
Edité par LAP LAMBERT Academic Publishing, 2019
ISBN 10 : 6200247242 ISBN 13 : 9786200247247
EUR 36,25
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications | Vanarajsinh Solanki (u. a.) | Taschenbuch | 60 S. | Englisch | 2019 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786200247247 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Cmos Cantilever Sensor Systems: Atomic Force Microscopy and Gas Sensing Applications
Livre 13 sur 17 : Microtechnology and MEMSLangue: anglais
Edité par Secaucus, New Jersey, U.S.A.: Springer Verlag, 2002
ISBN 10 : 3540431438 ISBN 13 : 9783540431435
Vendeur : Bingo Books 2, Vancouver, WA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 106,46
Expédition à EUR 5,42
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Fine. hardback book in fine condition.
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CMOS Cantilever Sensor Systems: Atomic Force Microscopy and Gas Sensing Applications (Microtechnology and MEMS)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 113,67
Expédition à EUR 13,86
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Atomic Force Microscopy: Biomedical Methods and Applications (Methods in Molecular Biology, 242)
Vendeur : Anybook.com, Lincoln, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 101,26
Expédition à EUR 32,22
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,700grams, ISBN:9781489939319.
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EUR 31,30
Expédition à EUR 105
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 284 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed.
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Langue: anglais
Edité par VDM Verlag Dr. Mueller E.K., 2008
ISBN 10 : 3639024613 ISBN 13 : 9783639024616
Vendeur : Rarewaves.com UK, London, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 65,22
Expédition à EUR 75,18
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Atomic-force Microscopy and Its Applications
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 132,65
Expédition à EUR 13,86
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 3 sur 5 étoiles
EUR 136,40
Expédition à EUR 8
Expédition depuis Italie vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 147,50
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences. Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Langue: anglais
Edité par VDM Verlag Dr. Müller, VDM Verlag Dr. Müller E.K., 2008
ISBN 10 : 3639024613 ISBN 13 : 9783639024616
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 85,02
Expédition à EUR 61,40
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Neuware - The atomic force microscope (AFM) was originally utilised for its imaging capabilities. The full potential of the AFM as a three-dimensional force profiling instrument is only now being realised in an increasingly broad range of fields. One of the key requirements for AFM measurements is the quantification of both in-plane and out-of-plane forces acting between the tip and the sample. In this book the procedure for calibration and the various factors to consider when undertaking such studies is outlined with a focus on force-versus-distance and frictional measurements. Examples of surface property analyses, based on the quantification of forces, are shown, with examples ranging from living animal cells to polymeric materials. This book is designed for researchers and students who are interested in carrying out nano scale force measurements in the biological, physical and chemical sciences on a range of systems.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 149,22
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Quantitative Measurements of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions Using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 144,13
Expédition à EUR 17,35
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM): Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 134,61
Expédition à EUR 28,91
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 147,39
Expédition à EUR 17,35
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 149,32
Expédition à EUR 17,35
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Quantitative Measurements of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions Using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 166,09
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Scanning Force Microscopy : With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces
Langue: anglais
Edité par Oxford University Press, 1994
ISBN 10 : 019509204X ISBN 13 : 9780195092042
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 166,23
Expédition à EUR 2,27
Expédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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