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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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EUR 35,29
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Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press CUP, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Volume 1155
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
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Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 164,93
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.: Vol 1155
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Paperback)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, Cambridge, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Etats-Unis
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CMOS Gate-Stack Scaling â" Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
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EUR 39,79
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Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
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EUR 49,28
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Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 50,23
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Paperback)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, Cambridge, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : CitiRetail, Stevenage, Royaume-Uni
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EUR 41,59
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2012
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
EUR 40,78
Expédition à EUR 48,99
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Paperback)
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, Cambridge, 2014
ISBN 10 : 1107408326 ISBN 13 : 9781107408326
Vendeur : AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 62,07
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.: Vol 1155
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 122,74
Expédition à EUR 11,54
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
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EUR 135,41
Expédition à EUR 17,21
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Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 169,59
Expédition à EUR 7,50
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2016
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
EUR 121,61
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Materials Research Society, 2009
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 171,79
Expédition à EUR 9,95
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
Langue: anglais
Edité par Cambridge University Press, 2016
ISBN 10 : 1605111287 ISBN 13 : 9781605111285
EUR 126,10
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications | Alexander A. Demkov (u. a.) | Buch | Englisch | 2016 | Cambridge University Press | EAN 9781605111285 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
