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Data Mining and Diagnosing IC Fails.
Edité par New York/ NY, Springer US., 2005
ISBN 10 : 0387249931 ISBN 13 : 9780387249933
Langue: anglais
Vendeur : Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Allemagne
Membre d'association : GIAQ ILAB VDA
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16
Autre deviseEUR 10 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panier2005. 16 x 24 cm. XX, 250 S. XX, 250 p. 46 illus. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. (Frontiers in Electronic Testing). Sprache: Englisch.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 38,28
Autre deviseGratuit expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 38,28
Autre deviseEUR 2,85 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : SecondSale, Montgomery, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 38,26
Autre deviseEUR 29,73 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 71,24
Autre deviseGratuit expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
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EUR 71,24
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Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,04
Autre deviseEUR 16,98 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,04
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 109,94
Autre deviseEUR 10,99 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Edité par Springer US, Springer New York Jun 2005, 2005
ISBN 10 : 0387249931 ISBN 13 : 9780387249933
Langue: anglais
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
Autre deviseEUR 15 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Neuware -This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 272 pp. Englisch.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Edité par Springer US, Springer New York, 2005
ISBN 10 : 0387249931 ISBN 13 : 9780387249933
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 114,36
Autre deviseEUR 10,99 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 120,47
Autre deviseEUR 16,98 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 123,62
Autre deviseEUR 17,30 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 124,39
Autre deviseEUR 17,30 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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DATA MINING AND DIAGNOSING IC FAILS
Vendeur : UK BOOKS STORE, London, LONDO, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 135,93
Autre deviseEUR 5,76 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Brand New! Fast Delivery US Edition and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 7-10 days and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested if the Book weight is more than 5 LB. This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 140,67
Autre deviseEUR 4,60 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 140,67
Autre deviseEUR 4,60 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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DATA MINING AND DIAGNOSING IC FAILS
Vendeur : URW Books Store, CASPER, WY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 132,37
Autre deviseEUR 12,73 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Brand New. Brand New! Fast Delivery, Delivery With In 7-10 working Day Only , USA Edition Original Edition. Excellent Quality, Printing In English Language, Quick delivery by FEDEX & DHL. USPS & UPS Act. Our courier service is not available at PO BOX& APO BOX. Ship from India & United States.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 145,36
Autre deviseEUR 7,64 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 272.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 152,30
Autre deviseEUR 11,53 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 270 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 101,86
Autre deviseEUR 63,70 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 101,86
Autre deviseEUR 63,70 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 172,24
Autre deviseEUR 17,30 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 162,75
Autre deviseEUR 28,83 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 193,70
Autre deviseEUR 16,98 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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DATA MINING AND DIAGNOSING IC FAILS
Vendeur : UK BOOKS STORE, London, LONDO, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 219,23
Autre deviseEUR 5,76 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : dsmbooks, Liverpool, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 196,50
Autre deviseEUR 28,83 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. Like New. book.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 213,94
Autre deviseEUR 17,30 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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DATA MINING AND DIAGNOSING IC FAILS
Vendeur : URW Books Store, CASPER, WY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 219,14
Autre deviseEUR 12,73 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. Brand New! Fast Delivery, Delivery With In 8-14 working Day Only , USA Edition Original Edition. Excellent Quality, Printing In English Language, Quick delivery by FEDEX & DHL. USPS & UPS Act. Our courier service is not available at PO BOX& APO BOX. Ship from India & United States.
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EUR 92,27
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Makes various data mining and diagnostic techniques available in one place to professionalsThe techniques described in this book are not available in one place, and many are not even available in any bookPresents a new diagnosis technique S.
