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Data Mining and Diagnosing IC Fails.
Edité par New York/ NY, Springer US., 2005
ISBN 10 : 0387249931 ISBN 13 : 9780387249933
Langue: anglais
Vendeur : Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Allemagne
Membre d'association : GIAQ ILAB VDA
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 16
Autre deviseEUR 10 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panier2005. 16 x 24 cm. XX, 250 S. XX, 250 p. 46 illus. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. (Frontiers in Electronic Testing). Sprache: Englisch.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 39,06
Autre deviseGratuit expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 32,34
Autre deviseEUR 7,92 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 272.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 31,99
Autre deviseEUR 7,95 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 30,43
Autre deviseEUR 10,54 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 272 46 Illus.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 39,06
Autre deviseEUR 2,95 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : SecondSale, Montgomery, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 38,22
Autre deviseEUR 30,79 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Item in good condition. Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 72,23
Autre deviseGratuit expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 72,23
Autre deviseEUR 2,95 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 109,94
Autre deviseEUR 10,99 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Edité par Springer US, Springer New York, 2005
ISBN 10 : 0387249931 ISBN 13 : 9780387249933
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 114,36
Autre deviseEUR 10,99 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.
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EUR 118,64
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Makes various data mining and diagnostic techniques available in one place to professionalsThe techniques described in this book are not available in one place, and many are not even available in any bookPresents a new diagnosis technique S.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 145,29
Autre deviseEUR 4,75 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 145,29
Autre deviseEUR 4,75 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 156,45
Autre deviseEUR 7,92 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 158,90
Autre deviseEUR 11,91 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 270 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 105,49
Autre deviseEUR 65,97 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 105,49
Autre deviseEUR 65,97 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 168,08
Autre deviseEUR 29,78 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : dsmbooks, Liverpool, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 203,50
Autre deviseEUR 29,78 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. Like New. book.
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EUR 93
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Makes various data mining and diagnostic techniques available in one place to professionalsThe techniques described in this book are not available in one place, and many are not even available in any bookPresents a new diagnosis technique S.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Edité par SPRINGER NATURE Dez 2010, 2010
ISBN 10 : 1441937676 ISBN 13 : 9781441937674
Langue: anglais
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
Autre deviseEUR 11 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done. 250 pp. Englisch.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
Autre deviseEUR 11 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Edité par Springer-Verlag New York Inc., 2005
ISBN 10 : 0387249931 ISBN 13 : 9780387249933
Langue: anglais
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 146,54
Autre deviseEUR 7,78 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierHardback. Etat : New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 589.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Edité par Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10 : 1441937676 ISBN 13 : 9781441937674
Langue: anglais
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 164,01
Autre deviseEUR 6,72 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierPaperback / softback. Etat : New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 440.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 163,13
Autre deviseEUR 10,54 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Print on Demand pp. 272 46 Illus.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 165,63
Autre deviseEUR 7,95 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 272.
