Data mining diagnosing fails (31 résultats)
Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-UnisRomtrade Corp.
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-UnisBasi6 International
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : SMASS Sellers, IRVING, TX, Etats-UnisSMASS Sellers
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Edité par New York/ NY, Springer US., 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, AllemagneUniversitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH
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2005. 16 x 24 cm. XX, 250 S. XX, 250 p. 46 illus. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. (Frontiers in Electronic Testing)…. Sprache: Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Peak Pearl LLC, Holly Springs, NC, Etats-UnisPeak Pearl LLC
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-UnisRomtrade Corp.
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Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-UnisBasi6 International
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Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 134,80
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 17,66 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 124,92
EUR 17,66 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 14,11 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-UniRia Christie Collections
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EUR 142,35
EUR 14,11 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. In.
Langue : anglais
Edité par Springer Us, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : preigu, Osnabrück, Allemagnepreigu
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EUR 70,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 5 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Data Mining and Diagnosing IC Fails | Leendert M Huisman | Taschenbuch | xx | Englisch | 2010 | Springer Us | EAN 9781441937674 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Langue : anglais
Edité par Springer Verlag, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-UniRevaluation Books
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EUR 156,31
EUR 14,72 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Hardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 270 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
Langue : anglais
Edité par Springer Us, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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EUR 61,93 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical o…r datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done.
Langue : anglais
Edité par Springer US, Springer New York, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AllemagneAHA-BUCH GmbH
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysi…s environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 162,99
EUR 17,66 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-UniGreatBookPricesUK
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EUR 175,86
EUR 17,66 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-UniMispah books
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EUR 29,44 expéditionExpédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Paperback. Etat : Like New. Like New. book.
Langue : anglais
Edité par Springer,, 2005
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Vendeur : Books in my Basket, New Delhi, IndeBooks in my Basket
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EUR 18,00 expéditionExpédition depuis Inde vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Hardcover. Etat : New. ISBN:9780387249933.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-UnisGreatBookPrices
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EUR 200,03
EUR 2,31 expéditionExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : As New. Unread book in perfect condition.
Langue : anglais
Edité par SPRINGER, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : UK BOOKS STORE, London, LONDO, Royaume-UniUK BOOKS STORE
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-UnisBasi6 International
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Frais de port gratuitsExpédition nationale : Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalieBrook Bookstore On Demand
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EUR 5,50 expéditionExpédition depuis Italie vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Langue : anglais
Edité par SPRINGER NATURE Dez 2010, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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EUR 106,99
EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significa…nt statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done. 250 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer US Jun 2005, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AllemagneBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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EUR 106,99
EUR 23,00 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in ot…her data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment. 272 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer US, 2005
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Couverture rigide
- impression à la demande
Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 92,27
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Makes various data mining and diagnostic techniques available in one place to professionalsThe techniques described in this book are not available in one place, and many are not even available in any bookPresent…s a new diagnosis technique S.
Langue : anglais
Edité par Springer US, 2010
Série : Frontiers in Electronic Testing, Livre 15 sur 40. Livre 15 sur 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagnemoluna
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EUR 93,00
EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Makes various data mining and diagnostic techniques available in one place to professionalsThe techniques described in this book are not available in one place, and many are not even available in any bookPresents a new di…agnosis technique S.
