Montant total (1 article articles) :
Destination de la commande :
data mining diagnosing fails de huisman leendert (36 résultats)
Commentaires
Passer aux résultats principaux de la recherche
Filtres de recherche
Type d'article
- Tous les types de produits
- Livres (36)
- Magazines & Périodiques (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Bandes dessinées (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Partitions de musique (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Art, Affiches et Gravures (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Photographies (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Cartes (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Manuscrits & Papiers anciens (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Etat En savoir plus
- Neuf (29)
- Comme neuf, Très bon ou Bon (5)
- Assez bon ou satisfaisant (1)
- Moyen ou mauvais (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Conformément à la description (1)
Particularités
- Ed. originale (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Signé (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Jaquette (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Avec images (14)
- Sans impressions à la demande (28)
Langue (1)
Livraison gratuite
Pays
Evaluation du vendeur
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : SecondSale, Montgomery, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,72
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. Item in good condition. Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
-
Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,74
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
-
Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Basi6 International, Irving, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 37,74
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : SMASS Sellers, IRVING, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 39,41
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails.
Edité par New York/ NY, Springer US., 2005
ISBN 10 : 0387249931 ISBN 13 : 9780387249933
Langue: anglais
Vendeur : Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Allemagne
Membre d'association : GIAQ ILAB VDA
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 16
Autre deviseEUR 30 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panier2005. 16 x 24 cm. XX, 250 S. XX, 250 p. 46 illus. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. (Frontiers in Electronic Testing). Sprache: Englisch.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : ALLBOOKS1, Direk, SA, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 48,42
Autre deviseGratuit expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
-
Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 70,61
Autre deviseGratuit expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : ALLBOOKS1, Direk, SA, Australie
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 89,23
Autre deviseGratuit expédition depuis Australie vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
-
Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 101,52
Autre deviseEUR 2,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 101,52
Autre deviseEUR 2,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 95,97
Autre deviseEUR 7,65 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. SUPER FAST SHIPPING.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Best Price, Torrance, CA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 95,97
Autre deviseEUR 7,65 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. SUPER FAST SHIPPING.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 102,10
Autre deviseEUR 3,40 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 102,10
Autre deviseEUR 3,40 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 120,75
Autre deviseEUR 2,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
-
Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 123,61
Autre deviseEUR 17,20 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 123,22
Autre deviseEUR 17,20 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 126,96
Autre deviseEUR 17,20 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 142,77
Autre deviseEUR 3,40 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 272.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 134,75
Autre deviseEUR 13,73 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 139,82
Autre deviseEUR 13,73 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Edité par Springer US, Springer New York Jun 2005, 2005
ISBN 10 : 0387249931 ISBN 13 : 9780387249933
Langue: anglais
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
Autre deviseEUR 60 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Neuware -This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 272 pp. Englisch.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 111,35
Autre deviseEUR 61,93 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Edité par Springer US, Springer New York, 2005
ISBN 10 : 0387249931 ISBN 13 : 9780387249933
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 114,36
Autre deviseEUR 62,88 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 151,48
Autre deviseEUR 28,66 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 270 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
-
Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 171,20
Autre deviseEUR 17,20 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 161,76
Autre deviseEUR 28,66 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
-
Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 193,90
Autre deviseEUR 2,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Edité par SPRINGER NATURE Dez 2010, 2010
ISBN 10 : 1441937676 ISBN 13 : 9781441937674
Langue: anglais
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
Autre deviseEUR 23 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done. 250 pp. Englisch.
-
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 106,99
Autre deviseEUR 23 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment. 272 pp. Englisch.
