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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Patrico Books, Apollo Beach, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 15,18
EUR 3,46 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Solr Books, Lincolnwood, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 39,54
EUR 6,92 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : HPB-Emerald, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 86,63
EUR 3,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 156,72
EUR 13,59 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 172,02
EUR 3,46 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 352 2nd Edition.
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Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : HPB-Red, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 178,61
EUR 3,25 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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EUR 79,08
EUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 184,45
EUR 7,37 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 205,60
EUR 3,46 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 206,01
EUR 3,46 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 223,43
EUR 13,59 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 218,49
EUR 28,36 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 302,61
EUR 14,18 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 305,24
EUR 14,18 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 303,79
EUR 28,36 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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EUR 180,07
EUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 180,07
EUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 297,67
EUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 352.
