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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Patrico Books, Apollo Beach, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 15,04
Autre deviseEUR 3,43 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Solr Books, Lincolnwood, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 18,56
Autre deviseEUR 6,85 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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EUR 37,89
Autre deviseEUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 169,62
Autre deviseEUR 3,43 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 159
Autre deviseEUR 13,79 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 178,08
Autre deviseEUR 7,48 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-oriented Testing for Nano-metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 204,81
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 203,62
Autre deviseEUR 3,43 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 205,21
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 204,03
Autre deviseEUR 3,43 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 226,68
Autre deviseEUR 13,79 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 221,68
Autre deviseEUR 28,77 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 254,04
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 300,84
Autre deviseEUR 28,77 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 303,45
Autre deviseEUR 28,77 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 308,22
Autre deviseEUR 28,77 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Defect-oriented Testing for Nano-metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 344,75
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
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EUR 180,07
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wide coverage of topics in test engineeringUnique defect-oriented focus of the materialsIntroduction to yield engineering common practicesThe 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New cha.
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EUR 180,07
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 299,66
Autre deviseEUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
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