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nicolici nicola (37 résultats)
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 34,72
Autre deviseEUR 21,58 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Good. 178 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing) Nicolici, Nicola and Al-Hashimi, Bashir M.
Vendeur : CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 28,39
Autre deviseEUR 32,80 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Used: Good. 2003 hardcover no dj as issued xlibrary copy withdrawn stamp on edge of pages/ in book clean text 178 pages::: J-10.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,43
Autre deviseEUR 4,58 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 104,39
Autre deviseEUR 17,26 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 123,12
Autre deviseEUR 4,58 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 125,26
Autre deviseGratuit expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 363 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 115,42
Autre deviseEUR 17,22 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Edité par Springer US, Springer New York, 2014
ISBN 10 : 1489983139 ISBN 13 : 9781489983138
Langue: anglais
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 122,12
Autre deviseEUR 10,99 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 145,66
Autre deviseEUR 7,77 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 192.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 151,52
Autre deviseEUR 11,48 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 180 pages. 9.25x6.10x0.44 inches. In Stock.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 164,62
Autre deviseEUR 4,58 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power.
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 161,82
Autre deviseEUR 7,77 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 388.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,19
Autre deviseEUR 64,74 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 103,53
Autre deviseEUR 64,74 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 112,72
Autre deviseEUR 64,74 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 164,49
Autre deviseEUR 10,99 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierBuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 171,44
Autre deviseEUR 17,22 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing (22B))
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 161,99
Autre deviseEUR 28,70 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 193,95
Autre deviseEUR 17,26 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 180,91
Autre deviseEUR 28,70 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 159,13
Autre deviseEUR 64,74 expédition depuis Etats-Unis vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 92,27
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu.
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EUR 92,27
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierGebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu.
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EUR 98,54
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Is the only comprehensive book on power-aware test for (low power) circuits and systemsInstructs readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliabilityIncludes necessary background information on design f.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 117,69
Autre deviseEUR 11 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices. 388 pp. Englisch.
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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Edité par Springer US, Springer New York Sep 2014, 2014
ISBN 10 : 1489983139 ISBN 13 : 9781489983138
Langue: anglais
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 117,69
Autre deviseEUR 15 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierTaschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 388 pp. Englisch.
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Power-Aware Testing and Test Strategies (eng)
Vendeur : Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italie
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 94,25
Autre deviseEUR 40 expédition depuis Italie vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Edité par Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10 : 1441953159 ISBN 13 : 9781441953155
Langue: anglais
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 134,13
Autre deviseEUR 5,71 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierPaperback / softback. Etat : New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 329.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Edité par Springer-Verlag New York Inc., 2003
ISBN 10 : 140207235X ISBN 13 : 9781402072352
Langue: anglais
Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 136,68
Autre deviseEUR 10,47 expédition depuis Royaume-Uni vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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EUR 137,26
Autre deviseEUR 9,70 expédition depuis Allemagne vers FranceQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
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