Montant total (1 article articles) :
Destination de la commande :
sachdev manoj gyvez jose pineda (24 résultats)
Passer aux résultats principaux de la recherche
Filtres de recherche
Type d'article
- Tous les types de produits
- Livres (24)
- Magazines & Périodiques (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Bandes dessinées (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Partitions de musique (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Art, Affiches et Gravures (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Photographies (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Cartes (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Manuscrits & Papiers anciens (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Etat En savoir plus
- Neuf (17)
- Comme neuf, Très bon ou Bon (6)
- Assez bon ou satisfaisant (1)
- Moyen ou mauvais (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Conformément à la description (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Particularités
- Ed. originale (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Signé (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Jaquette (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
- Avec images (7)
- Sans impressions à la demande (21)
Langue (1)
Livraison gratuite
- Livraison gratuite à destination de Etats-Unis (Aucun autre résultat ne correspond à ces critères)
Pays
Evaluation du vendeur
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Patrico Books, Apollo Beach, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 15,06
Autre deviseEUR 3,43 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierhardcover. Etat : As New. 2nd. Ships Out Tomorrow!
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Solr Books, Lincolnwood, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 18,59
Autre deviseEUR 6,86 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
-
EUR 37,89
Autre deviseEUR 105 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Books Puddle, New York, NY, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 169,86
Autre deviseEUR 3,43 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 352 2nd Edition.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 159,19
Autre deviseEUR 13,80 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Majestic Books, Hounslow, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 178,33
Autre deviseEUR 7,49 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
-
Defect-oriented Testing for Nano-metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 205,10
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 203,91
Autre deviseEUR 3,43 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 205,48
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 204,32
Autre deviseEUR 3,43 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 226,96
Autre deviseEUR 13,80 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. In.
-
Defect-oriented Testing for Nano-metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 241,41
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 241,82
Autre deviseEUR 2,27 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : As New. Unread book in perfect condition.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 221,95
Autre deviseEUR 28,81 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Like New. Like New. book.
-
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Edité par Springer-Verlag New York Inc., 2007
ISBN 10 : 0387465464 ISBN 13 : 9780387465463
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 252,29
Autre deviseEUR 10,50 expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Presents the work on defect-oriented testing. This book is useful for test and design practitioners from academia and industry. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 20. Weight in Grams: 669. . 2007. 2nd ed. 2007. Hardback. . . . .
-
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Edité par Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10 : 1441942858 ISBN 13 : 9781441942852
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlande
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 283,49
Autre deviseEUR 10,50 expédition depuis Irlande vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 18. Weight in Grams: 539. . 2010. Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007. paperback. . . . .
-
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Edité par Springer-Verlag New York Inc., 2007
ISBN 10 : 0387465464 ISBN 13 : 9780387465463
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 314,42
Autre deviseEUR 9,03 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Presents the work on defect-oriented testing. This book is useful for test and design practitioners from academia and industry. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 20. Weight in Grams: 669. . 2007. 2nd ed. 2007. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 299,95
Autre deviseEUR 28,81 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 302,55
Autre deviseEUR 28,81 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 2 disponible(s)
Ajouter au panierHardcover. Etat : Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
EUR 308,59
Autre deviseEUR 28,81 expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-UnisQuantité disponible : 1 disponible(s)
Ajouter au panierPaperback. Etat : Like New. Like New. book.
-
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Edité par Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10 : 1441942858 ISBN 13 : 9781441942852
Langue: anglais
Vendeur : Kennys Bookstore, Olney, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 357,33
Autre deviseEUR 9,03 expédition vers Etats-UnisQuantité disponible : 15 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 18. Weight in Grams: 539. . 2010. Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
EUR 180,07
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wide coverage of topics in test engineeringUnique defect-oriented focus of the materialsIntroduction to yield engineering common practicesThe 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New cha.
-
EUR 180,07
Autre deviseEUR 48,99 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Ajouter au panierEtat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wide coverage of topics in test engineeringUnique defect-oriented focus of the materialsIntroduction to yield engineering common practicesThe 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New cha.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Vendeur : Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
EUR 301,89
Autre deviseEUR 9,95 expédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : 4 disponible(s)
Ajouter au panierEtat : New. PRINT ON DEMAND pp. 352.
