Transmission electron microscopy diffractometry par howe james (29 résultats)
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Hardcover. Etat : Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
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hardcover. Etat : Gut. 778 Seiten; 9783540738855.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Edité par Springer, 2014
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Edité par Springer, 2014
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Edité par Springer, 2014
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2014
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Edité par Springer, 2012
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Langue : anglais
Edité par Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
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Hardcover. Etat : gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are im…portant for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
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Langue : anglais
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2014
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam… diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Langue : anglais
Edité par Springer, 2014
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2014
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2014
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2012
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Langue : anglais
Edité par Springer Berlin Heidelberg Nov 2014, 2014
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomo…graphy, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. 784 pp. Englisch.
Langue : anglais
Edité par Springer Berlin Heidelberg, 2014
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EUR 48,99 expéditionExpédition depuis Allemagne vers Etats-UnisQuantité disponible : Plus de 20 disponibles
Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. New edition of successful, well-reviewed textbook Provides an integrated coverage of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry Shows how wave radiation probes the structure of materials Supports learning a…nd teaching .
Langue : anglais
Edité par Springer, 2014
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Langue : anglais
Edité par Springer, 2014
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Langue : anglais
Edité par Springer Berlin Heidelberg Okt 2012, 2012
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Langue : anglais
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